Plasma Bevel Etch and Deposition
Coronus 系統專注於晶圓邊緣,以提高產品良率。半導體製程會導致殘留物和微粗糙沿著晶圓邊緣積聚,它們可能會剝落、漂移到其他區域並產生導致元件失效的缺陷。Coronus 刻蝕產品可去除邊緣殘留物,Coronus 沉積可保護晶圓邊緣不受損害。
電漿建模 半導體製程建模
Our semiconductor process modeling software (SEMulator3D) and plasma modeling software (OverViz) perform predictive modeling of etch, deposition, plasma & other processes, to identify problems prior to fabrication.
濕式清洗
這些產品提供了高生產力所需的製程靈活性,可在整個製造流程中實現各種晶圓清洗步驟。
Lam Research的先進濕式晶圓清洗產品可提供極低的晶圓缺陷率以及優異的生產量,以解決日益嚴苛的晶圓清洗應用需求。
Atomic Layer Etch (ALE) 反應離子蝕刻(RIE)
Lam Research的介電層蝕刻系統具備應用導向功能,可用來建構先進元件中的各種高難度結構。
Dry Strip
這些產品可為各種關鍵的光阻去除應用提供所需的製程靈活性。
反應離子蝕刻(RIE)
Lam Research領先市場的導體蝕刻產品能以高生產力提供形成關鍵導體結構所需的高效能精度與控制。
Mass Metrology
Lam Research的質量測量系統可為3D 元件結構的先進製程監控提供次毫克級(sub-milligram)的質量測量能力。
Reliant 系統 化學氣相沉積(CVD) 脈衝雷射沉積(PLD) 電漿輔助化學氣相沉積(PECVD) 高密度電漿化學氣相沉積(HDP-CVD)
我們的 Reliant 沉積產品可實現特殊製程藍圖,並延長晶圓廠的生產壽命。
Reliant 系統 濕式清洗/光阻去除/蝕刻
我們的 Reliant 清洗產品可實現特殊製程藍圖,並延長晶圓廠的生產壽命。
半導體製程建模
SEMulator3D® 是一個半導體製程建模平台,具有廣泛的技術開發能力。
Deep Reactive Ion Etch (DRIE) 反應離子蝕刻(RIE)
採用緊湊、高密度的結構設計,Lam Research突破性的Sense.i™平台具備無與倫比的系統智慧,能以最高生產力實現製程效能。
Atomic Layer Deposition (ALD)
利用先進的ALD技術,這些產品可為介電層薄膜提供優異的控制能力,以建構關鍵製程中具備奈米級結構的先進元件。
電漿輔助化學氣相沉積(PECVD)
Lam Research的 PECVD產品能以高生產力為各種元件應用提供精密的介電層薄膜沉積。
這些金屬蝕刻產品能以高生產力為電性連接和金屬硬式罩幕應用提供優異的製程控制能力。
Selective Etch 選擇性蝕刻
突破性的産品組合可提供埃米等級的精密度和超高選擇性、等向性材料的去除能力,以滿足3D結構和先進邏輯晶片與晶圓製造應用需求。